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更新時間:2024-08-21
雙工位三輪往復循環(huán)測試儀根據Master 卡CQM項目對卡進行三輪測試?ū环诺綑C器中,測試輪將循環(huán)測試100次,芯片前方滾動50次,芯片后方滾動50次,循環(huán)頻率為0.5Hz,向下的壓力為8N。經過測試,檢查芯片情況,芯片應該是完好無損且功能正常。
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雙工位三輪往復循環(huán)測試儀產品介紹:測試方法及標準依據GB/T16649.1-2006,具備8-15N的測試范圍,具備兩個工作站,可以同時測試兩張卡片,適用于對識別卡、帶觸點的集成電路卡進行三輪往復循環(huán)測試。
雙工位三輪往復循環(huán)測試儀根據Master 卡CQM項目對卡進行三輪測試?ū环诺綑C器中,測試輪將循環(huán)測試100次,芯片方滾動50次,芯片后方滾動50次,循環(huán)頻率為0.5Hz,向下的壓力為8N。經過測試,檢查芯片情況,芯片應該是完好無損且功能正常。測試儀配有額外的一個15N砝碼用于進行CQM標準推薦的測試。
雙工位三輪往復循環(huán)測試儀測試要求:
1.6Pin卡片測試,正面測試時滾輪中心軸距離卡片上邊緣22.62mm,背面測試時滾輪中心軸距離卡片上邊緣31.38mm.
2.8Pin卡片測試,正面測試時滾輪中心軸距離卡片上邊緣23.89mm,背面測試時滾輪中心軸距離卡片上邊緣30.11mm.
3. 儀器具備測試不同大小模塊的卡片的定位功能,正背面的測試位置可以定位且方便更換。
4. 啟動后,卡片以0.5HZ的頻率重復反復運動,每個面各做50次循環(huán),具備計數功能,完成測試50次循環(huán)后可以自動停止,同進可以測試兩張卡片。
雙工位三輪往復循環(huán)測試儀儀器測試工作臺三個輪子組成:
1. 一個在卡片芯片的上面是滾輪1,兩個在卡片下面是滾輪2和滾輪3.卡片在三個輪子之間反復移動。
2. 滾輪直徑10mm,滾輪寬度4mm,偏差±1mm,滾輪2和滾輪3軸向固定但可以滾動,滾動1在卡片表
面成直角方向上移動(大偏差不超過±5°),給卡片施加一個作用力,施加的作用力有以下規(guī)格:8N 、10N 、12N 、15N 等。
3. 滾輪2和3的中心軸與滾輪1表面距離4-4.5mm。輪有標準倒角,并采用低摩擦力的軸承,如球軸承。三個輪中任意上下的測量間距不超過0.5mm,起始狀態(tài)下,滾輪1下壓,距離卡片邊緣0.1-0.2mm。
4. 卡片測試速度≤100mm/s,運動過程中三個滾輪的中心軸的平面角度波動≤2°.
序號 | 項目 | 說明 |
1 | 外形尺寸 | 80 × 42 × 50cm,偏差±5cm。 |
2 | 重量 | 40 Kg |
3 | 電源 | AC220V 50-60HZ |